涂層測(cè)厚儀能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
涂層測(cè)厚儀四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
涂層測(cè)厚儀所有型號(hào)均可配所有探頭;
涂層測(cè)厚儀可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
涂層測(cè)厚儀可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
涂層測(cè)厚儀技術(shù)特征
型號(hào) |
MINITEST 1100 |
MINITEST 2100 |
MINITEST 3100 |
MINITEST 4100 |
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 |
||||
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) |
. |
1 |
10 |
99 |
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
. |
1 |
500 |
500 |
數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 |
||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
. |
√ |
√ |
√ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
. |
. |
√ |
√ |
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
. |
. |
√ |
√ |
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
. |
. |
√ |
√ |
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
. |
. |
. |
√ |
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
. |
. |
√ |
√ |
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
. |
√ |
√ |
√ |
其他功能 |
||||
設(shè)置極限值 |
. |
. |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別*大*小值 |
. |
. |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
. |
. |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值 |
. |
. |
√ |
√ |
可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 |
量程 |
低端 |
誤差 |
*小曲率半徑 |
*小測(cè)量 |
*小基 |
探頭尺寸 |
|||||||||
磁 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
||||||||
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|||||||||
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|||||||||
F2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|||||||||
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|||||||||
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
|||||||||
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
|||||||||
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
|||||||||
兩 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
||||||||
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89mm |
|||||||||
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62mm |
|||||||||
電 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
||||||||
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
|||||||||
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
|||||||||
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
|||||||||
N2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
50μm |
φ15x62mm |
|||||||||
N2/90 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
|||||||||
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
|||||||||
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
|||||||||
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
|||||||||
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無(wú)限制 |
φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。